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优睿谱致力于填补中国半导体前道量测设备空白
优睿谱成立于2021年9月,公司位于上海张江高科技园区。
优睿谱由长期从事半导体行业的海归博士、国内优秀的半导体前道量测检测设备技术团队共同发起成立。团队核心成员均长期深耕半导体前道量测检测设备行业,在国内有深厚的产业背景、产业资源以及设备制造的产业链资源。
优睿谱坚持实事求是、笃行致远的信念,秉承着务实高效的精神,致力于打造高品质的半导体前道量测设备,为填补中国半导体前道量测设备空白贡献自己的力量,同时在深厚的技术积累基础上实现技术创新。
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FTIR系列
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SICV系列
Eos200
6&8寸硅基外延层膜厚测量
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Eos200lite
6&8寸SiC外延层膜厚测量
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Eos300+
12寸元素与外延膜厚测量自动设备
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Eos200DSR
全自动反射式光学膜厚量测设备
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SICD200
SiC衬底晶圆位错及微管缺陷全自动检测设备
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SICV200
晶圆电阻率测量设备
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高精度测量,稳定性优异
免维护设计,高稳定性
FROC知识产权
双机械臂,高产能
精巧光学系统
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公司新闻
Company News
优睿谱晶圆电阻率测量设备SICV200同时发货两家客户
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再下一城!优睿谱薄膜厚度测量设备成功交付
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优睿谱成功推出晶圆电阻率量测设备SICV200
2023-12-05
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优睿谱完成近亿元A轮融资
2023-07-10
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服务热线:销售经理:冯忠平 15895446509
联系邮箱:service@avantsemi.com.cn
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